一项纠正sf6定量检漏仪受水分影响的专利技术
作者：kstone 发布时间：2020-03-28 19:55 浏览次数 :
上海科石研制的lf-301 sf6定量检漏仪产品在使用过程中，受水分影响较大，水分高低影响实际测试获得浓度值。
由于设备的实际应用环境一般均为自然环境，而自然环境的水分也是不稳定的，随时变化的。
严格来讲，随着水分的变化必须随时进行基数校准。作为现场使用的检漏工具，使用环境的水分是一直处于变化和没有规律的，不可能有水分稳定的环境。
由此，发明人认为对于这样的卤素检漏仪可以研究水分对于卤素检漏仪的影响程度而加以数据处理。经研究发现，在不同的卤素类气体浓度下，湿度对于卤素检漏仪产生的电压值的影响是不一致的，无法在程序上做一维的数据处理。所以无法使用数据处理的方法来解决卤素检漏仪受水分影响产生偏差的问题。
通过设置一种纠正卤素检漏仪数据偏差的装置对进入卤素检漏仪中的气体进行水分去除，同时，该装置不能阻碍卤素类气体的进出，对卤素类气体不能有黏附，不能影响卤素检漏仪中响应时间和恢复时间的技术参数，从而解决卤素检漏仪受水分影响产生偏差的问题。
根据该专利技术，上海科石定制了一款用于高精度要求sf6定量检漏仪“去水分纠正模块”；
去水分纠正模块外形图
中间段为中空金属管，内填充可循环使用的吸收水分材料aaaa；建站外面两端为堵头；
检漏仪出厂时，该部件作为可选件出货，出厂时两端堵头密封。
需要使用本模块时，按下图拧开探测器金属杆，接上本模块
由于本模块吸收水分饱和或即将饱和时，模块将失去或部分失去吸水分效能；
按以下两种方式去除模块内aaaa的水分
1、使用完毕后，插入标准氮气出气口不间断冲洗（某些由条件的企业）；
2、每次使用前将本模块放入烘箱内烘烤 1-2小时，烘烤温度100-200度。
本模块属于选购件，属于易损件。建议每6个月更换一次。
由于本模块使用和维护有一定麻烦，如非精度要求，可不选购；
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